Электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JEOL JEM-2100

Микроскоп предназначен для исследования реальной структуры тонких сечений массивных объектов, порошкообразных, плёночных и других объектов, изучаемых в физике твёрдого тела, материаловедении, биологии. Среди них – углеродные наноматериалы (нанотрубки, фуллерены), неорганические нанопорошки и плёнки, высокотемпературные сверхпроводники, материалы оптоэлектроники и др. Кроме магнитных и быстро испаряемых (олово, свинец и т.д.) материалов.